德國JENA高精度平面光柵尺

德國JENA高精度平面光柵尺

簡介

1、二維線性測量光柵尺
2、光柵周期20 μm，玻璃盤
3、測量范圍可達105 x 89 mm（更大可以定制）
4、測量角度范圍*大可達 ±10’
5、細分*大為×100，細分電路在15pin Sub-D接頭內(nèi)
6、讀頭尺寸精巧
7、多種安裝方式
8、高分辨率、高精度
9、高細分精度，信號可自動調(diào)整
10、每個測量方向一個原點信號

技術參數(shù)

1、讀頭重量：17g （不含線）
2、可選分辨率：0.05μm、0.1μm、0.2μm、0.5μm、1μm、5μm
3、速度參數(shù)：
       無細分電路－－max. 600 m/min --->10 m/s
       細分數(shù)x50－－max. 96   m/min --->1.6 m/s
4、測量范圍：
       長度－－105 x 89 mm（更大可以定制）
       角度－－±10’
5、測量標準：
       材質－－玻璃，厚度1.1mm
 

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